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SNJ54BCT8374AFK

भाग संख्या SNJ54BCT8374AFK
उत्पाद वर्गीकरण विशेष तर्क
निर्माता Texas Instruments
या क़िस्‍म SCAN TEST DEVICES WITH OCTAL D-T
संपुटीकरण
लपेटना नली
बड़ तादाद 1200
RoHS स्थिति YES
पत्ती
उत्पाद पैरामीटर
उत्पाद वर्णन:
PDF(1)
प्रकारविवरण
एमएफआरTexas Instruments
शृंखला54BCT
पैकेटनली
उत्पाद की स्थितिACTIVE
पैकेज/केस28-CLCC
माउन्टिंग का प्रकारSurface Mount
बिट्स की संख्या8
तर्क प्रकारScan Test Device with D-Type Edge-Triggered Flip-Flops
परिचालन तापमान-55°C ~ 125°C
वोल्टेज आपूर्ति4.5V ~ 5.5V
आपूर्तिकर्ता डिवाइस पैकेज28-LCCC (11.43x11.43)

Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 133.0000MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 24.5760MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 100.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 125.0000MHZ LVPECL
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSCILLATOR, ULTRA LOW POWER
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 133.3330MHZ CMOS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC XO 175.0000MHZ LVDS SMD
Roving Networks (Microchip Technology)
MEMS OSC LOW JITTER 125MHZ LVDS
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